Kammrath & Weiss 是(shi)一家德國公司，專注于(yu)高精(jing)度測(ce)試和測(ce)量設備(bei)，特(te)別是(shi)在(zai)材料科學(xue)、微力(li)學(xue)和納米技術領域。其產品(pin)廣泛應(ying)用于(yu)科研和工業領域，包括(kuo)力(li)學(xue)測(ce)試、環(huan)境模擬和電學(xue)測(ce)試等。

以下是 Kammrath & Weiss 的一些主要產品系(xi)列和型號，歡迎咨詢(xun)選購(gou)：

1. 力學測試設備

用(yong)于材料力學性能(neng)的(de)測(ce)試和分(fen)析。

Tensile/Compression Testers（拉伸(shen)/壓縮測(ce)試儀）

型號示例：Kammrath & Weiss T1000（小(xiao)型拉伸/壓(ya)縮測(ce)試儀）。

Nanoindentation Systems（納(na)米壓(ya)痕系統）

型號示例(li)：Kammrath & Weiss Nanoindenter（用于微觀(guan)力學性能測試）。

Shear Testers（剪切測(ce)試儀）

型號(hao)示例：Kammrath & Weiss Shear Tester（用于(yu)材料剪切性能測試(shi)）。

2. 環境模擬設備

用于模擬極端環境條(tiao)件下的材料性能測(ce)試。

Temperature Chambers （溫(wen)度試驗(yan)箱）

型號示例：Kammrath & Weiss TCC（溫度控制箱(xiang)，支持 -150°C 至 +300°C）。

Humidity Chambers （濕度試驗箱）

型(xing)號(hao)示例(li)：Kammrath & Weiss HCC（濕度控制箱，支持 10% 至 98% RH）。

Cryogenic Test Systems（低溫測試系(xi)統）

型(xing)號示例：Kammrath & Weiss Cryo System（用于極低溫(wen)環境下的材料(liao)測試(shi)）。

3. 電學測試設備

用于材料的電(dian)學性能(neng)測試(shi)。

Dielectric Testers（介電測試儀(yi)）

 型號示例：Kammrath & Weiss DTS（介(jie)電測(ce)試系統(tong)）。

Impedance Analyzers（阻抗(kang)分析儀）

 型號示(shi)例：Kammrath & Weiss Impedance Analyzer（用于材(cai)料阻抗特性測試）。

4. 多功能(neng)測試(shi)系統

結合(he)力(li)學、電(dian)學和環境模擬的多(duo)功能測試設備(bei)。

Combined Test Systems（組合測試系(xi)統）

型(xing)號示例：Kammrath & Weiss CTS（多功能(neng)測(ce)試(shi)(shi)系統，支持(chi)力學、電學和環境模(mo)擬(ni)測(ce)試(shi)(shi)）。

5. 顯微鏡和光學設備(bei)

用于微觀結(jie)構的觀察和分(fen)析。

Optical Microscopes（光學顯(xian)微(wei)鏡(jing)）

型(xing)號示例：Kammrath & Weiss OM（高分辨率光學顯微(wei)鏡）。

Confocal Microscopes共聚(ju)焦顯微鏡）

 型號示(shi)例：Kammrath & Weiss Confocal Microscope（用(yong)于(yu)三(san)維(wei)微觀結構分析）。

6. 特殊應用設備

Micro-Manipulators（微(wei)操作器）

型(xing)號示例：Kammrath &; Weiss Micro-Manipulator（用于微觀樣品的精確操(cao)作）。

Sample Holders（樣品(pin)夾具）

  型號示例：Kammrath & Weiss SH（適(shi)用(yong)于各種測試(shi)的樣品(pin)夾具）。