Bruker Corporation 是全球領(ling)先的科學儀(yi)器(qi)制造商，1960年成立于(yu)德國，總(zong)部位于(yu)美國比勒(le)瑞卡（Billerica），在瑞士(shi)設有(you)重(zhong)要研發中心。公司專注于(yu) 高端分析儀器，產品覆蓋納米表面(mian)科學、分子光譜、質譜和磁共振技(ji)術，以 原子力顯微鏡（AFM） 和 X射線儀器 聞(wen)名。
Dimension Icon 是 Bruker 的 旗艦級原子力顯微鏡（AFM），提供 納米級表面形貌、力學性能和電學特性 測(ce)量(liang)，廣(guang)泛應用(yong)于材料科學、半導體、生物研(yan)究和納米技術。
| 型號 | 核心功能 | 分辨率 | 獨特技術 | 典型應用 |
|---|---|---|---|---|
| Dimension Icon | 基礎AFM成像（接觸/輕敲模式） | 橫向<0.5 nm，縱向<0.1 nm | ScanAsyst? 自動優化技術 | 材料表面形貌、粗糙度分析 |
| Dimension Icon+ | 增強版，支持PeakForce Tapping? 和納米力學映射 | 橫向<0.5 nm | PeakForce QNM?（定量納米力學測量） | 聚合物、生物樣本的彈性/粘附性 |
| Dimension Icon-R | 電學特性擴展（導電AFM、開爾文探針力顯微鏡KPFM） | 橫向<1 nm | NanoElectrical Suite（電學測量套件） | 半導體器件、太陽能電池分析 |
| Dimension Icon-S | 高溫/低溫環境控制（-35°C ~ +250°C） | 橫向<1 nm | 閉環掃描器，溫控樣品臺 | 相變材料、納米熱學研究 |
| Dimension Icon-FIB | 聚焦離子束（FIB）集成，支持原位納米加工與AFM聯用 | 橫向<1 nm | FIB-AFM 協同工作流程 | 納米器件制備與表征 |
PeakForce Tapping?：
取代傳統輕敲模式，直接控制探針-樣品作用力（低至 10 pN），減少樣品損傷。
ScanAsyst? 自動優化：
智能調節掃描參(can)數，無需(xu)手動(dong)設(she)置。
NanoElectrical Suite：
支持 導電AFM（C-AFM）、開爾文探針（KPFM）、壓電力顯微鏡（PFM）。
環境控制：
可選 液體池、溫控模塊、真空腔，適應生物(wu)活體或極(ji)端條(tiao)件測試。
探針類型：
SCANASYST-AIR（標準硅探針）
RTESPA-300（高(gao)分辨率探針，針尖半徑<8 nm）
PFQNE-AL（PeakForce 定量納米力學探針）
軟件模塊：
NanoScope Analysis：3D形貌重(zhong)建與(yu)數(shu)據(ju)分析。
NanoMan?：支持納(na)米刻蝕與操縱。
聯用技術：
與 拉曼光譜（AFM-Raman） 或 光學顯微鏡 聯用。
半導體工業：
晶體(ti)管柵(zha)極氧化(hua)層(ceng)厚度測量、缺陷定位(wei)。
生物醫學：
細胞(bao)膜(mo)力學性能、蛋白質相互作用力映(ying)射(she)。
能源材料：
鋰電(dian)池(chi)電(dian)極表(biao)面退化分(fen)析、鈣鈦礦太陽能(neng)電(dian)池(chi)形貌表(biao)征(zheng)。
二維材料：
石墨烯、MoS? 的層(ceng)數識(shi)別與電(dian)學性質測量。
Dimension Icon 系列 是 Bruker AFM 技術的集大成者，通過 模塊化設計 滿足從(cong)基礎形貌到多功能物性(xing)測量(liang)的需求。
全系支持 自動化操作 和 高環境適應性，是納米科學研(yan)究與工業質量控制的理(li)想(xiang)工具。
（注(zhu)：1 nm = 10?? m；pN = 皮牛頓(dun)，10?12 N。）
其他注意事項：
更詳細的技術(shu)資料需通過提供項目詳情獲取(qu)，歡迎咨詢。
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