Bruker Corporation（布魯克公司）是全球領先的科學儀器制造商，成立于1960年，總部位于美國馬薩諸塞州比勒瑞卡（Billerica）。公司專注于 高端分析儀器 的研發與生產，產品覆蓋 納米技術、生命科學、材料研究和工業應用 領域，尤其在 原子力顯微鏡（AFM） 和 探針技術 方面處于行業領先地位。
原子力顯微鏡（AFM）
高分辨率表面形貌與物性測量
生物AFM、電學AFM、納米力學AFM
探針技術
高性能AFM探針（如 RTESPA-300）
專用探針（導電、磁性、生物兼容等）
納米表征系統
與光學顯微鏡、拉曼光譜聯用
RTESPA-300 是 Bruker 旗下的一款 高頻輕敲模式AFM探針，專為 高分辨率成像 設計，適用于材料科學、半導體和生物樣品的高精度表面形貌分析。
| 型號 | 針尖半徑 | 共振頻率 | 彈性系數 | 典型應用 |
|---|---|---|---|---|
| RTESPA-300 | <8 nm | 300 kHz | 40 N/m | 高分辨形貌成像（半導體、二維材料） |
| RTESPA-300-30 | <8 nm | 300 kHz | 30 N/m | 軟材料成像（聚合物、生物樣品） |
| RTESPA-300-50 | <8 nm | 300 kHz | 50 N/m | 硬材料成像（金屬、陶瓷） |
| RTESPA-300-CB | <8 nm | 300 kHz | 40 N/m | 導電AFM（C-AFM）測量 |
超尖銳針尖：針尖半徑 <8 nm，可實現原子級分辨率成像。
高頻輕敲模式：共振頻率 300 kHz，減少噪聲干擾，提高掃描速度。
高彈性系數：40 N/m（標準版），適用于大多數樣品。
可選導電涂層（RTESPA-300-CB）：用于 導電AFM（C-AFM） 和 開爾文探針力顯微鏡（KPFM）。
Dimension Icon / FastScan AFM（Bruker 高端AFM）
MultiMode 8 / NanoScope V（常規AFM系統）
BioAFM（生物樣品兼容）
半導體行業
硅片表面缺陷檢測
光刻膠形貌分析
材料科學
石墨烯、MoS? 等二維材料層數識別
納米顆粒、薄膜粗糙度測量
生物研究
蛋白質、DNA 高分辨成像（需搭配軟懸臂版本）
| 探針型號 | 特點 | 適用場景 |
|---|---|---|
| SCANASYST-AIR | 標準輕敲模式探針，k=0.4 N/m | 常規形貌成像 |
| PFQNE-AL | PeakForce QNM? 納米力學探針 | 彈性模量、粘附力測量 |
| TESPA-V2 | 高頻探針（320 kHz），針尖<10 nm | 超高分辨成像 |
RTESPA-300 是 Bruker 高性能AFM探針 的代表產品，適用于 高分辨、高速掃描 需求。
提供 標準版、軟材料版、硬材料版和導電版，滿足不同實驗需求。
廣泛應用于 半導體、納米材料、生物醫學 等領域。
（注：N/m = 牛頓每米；kHz = 千赫茲；nm = 納米。）
其他注意事項：
更詳細的技術資料需通過提供項目詳情獲取，歡迎咨詢。
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